广州广华智电获得一种根据光学扫描的复合绝缘子爬电间隔测量方法及设备专利

时间: 2025-02-11 07:11:42 |   作者: 薄膜系列 1

  金融界2024年12月14日音讯,国家知识产权局信息数据显现,广州广华智电科技有限公司获得一项名为“一种根据光学扫描的复合绝缘子爬电间隔测量方法及设备”的专利,授权公告号CN 117368934 B,请求日期为2023年9月。

  特别声明:以上内容(如有图片或视频亦包含在内)为自媒体渠道“网易号”用户上传并发布,本渠道仅供给信息存储服务。

  一男人忽然逝世,信用卡欠5.8万,银行要求其妻女归还,其女:你先证明他是我爸!法院:不必还!

  国乒新动态!刘国正新岗位曝光,妻子美丽,现在爱情工作双丰收,刘国梁祝愿,王楚钦高兴

  主帅被驱赶森林狼仍反转太阳 杜兰特33+7华子33+7布克28+9失误

  《编码物候》展览开幕 北京年代美术馆以科学艺术解读数字与生物交错的世界节律

  不超3000能卖爆!iPhone SE4细节曝光:6.1寸刘海屏+A17 Pro

  起价格 499 美元:谷歌 Pixel 9a 手机被曝 3 月 19 日预售

  vivo V50 5G 手机烘托图首曝:骁龙7 Gen 3 芯片,玫瑰红配色吸睛